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                                上海伯東真空產品事業部搬遷通知

                                原子力顯微鏡硅片表面形貌測量
                                閱讀數: 1042

                                原子力顯微鏡硅片表面形貌測量

                                英國 NanoMagnetics 原子力顯微鏡硅片表面形貌測量
                                上海伯東代理的英國 NanoMagnetics 原子力顯微鏡硅片表面形貌測量應用, 某高校老師通過原子力顯微鏡進行硅片表面形貌測量和表面粗糙度測量, 便于后續進行拉曼增強.

                                測試方法: 選用上海伯東英國 NanoMagnetics 原子力顯微鏡 ezAFM 進行測試. 將樣品放置在樣品臺, 通過系統軟件自動控制.

                                原子力顯微鏡測試條件

                                原子力顯微鏡 AFM

                                圖像參數

                                品牌

                                英國 NanoMagnetics

                                原子力顯微鏡型號

                                ezAFM

                                模式

                                動態模式

                                分辨率 ( pixels )

                                512 x 512

                                懸臂類型

                                ACLA from App Nano

                                Set RMS

                                1.0 VRMS

                                Free RMS

                                2.0 VRMS


                                原子力顯微鏡 ezAFM 性能

                                原子力顯微鏡AFM

                                掃描范圍

                                120 x 120 x 40 μm 或 40 x 40 x 4 μm

                                模式

                                接觸模式, 動態力 / 相位成像模式, 側向力顯微鏡 LFM 和磁力顯微鏡 MFM 模式

                                噪聲基底

                                65 fm √Hz

                                分辨率

                                2μm 集成光學顯微鏡

                                全高清攝像機

                                390x230μm, 2516x1960, pixels, 30fps,

                                樣品尺寸

                                10 x 10 x 5mm ( 可配置為不限制樣品尺寸 )


                                硅片表面形貌成像圖

                                原子力顯微鏡硅片表面形貌成像圖
                                硅片表面粗糙度成像圖

                                原子力顯微鏡硅片表面粗糙度成像圖

                                英國 NanoMagnetics 儀器 1998年在牛津成立, 作為原子力顯微鏡 AFM 制造商, 主營環境掃描探針顯微鏡 SPM, 低溫掃描探針顯微鏡 LT-SPM, 霍爾效應測量系統等, 原子力顯微鏡適用于產品表面特征分析, 生命科學, 原位成像, 材料科學, 薄膜等領域.廣泛應用于牛津大學, 斯坦福, 京都大學, NASA 等學府和科研院所.
                                 

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